专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]竖直堆叠系统封装及其制造方法-CN201680023338.6有效
  • 翟军;胡坤忠 - 苹果公司
  • 2016-03-08 - 2020-08-14 - H01L21/56
  • 本发明描述了一种竖直堆叠的系统封装结构。一种封装包括第一(125)模制(122)和扇出结构(130)、第三(185)模制(182)和扇出结构(190)以及在所述第一(125)和第三(185)之间的第二(155)模制(152)和扇出结构所述第一(125)模制(122)和扇出结构(130)包括第一(110),所述第二(155)模制(152)和扇出结构(160)包括背对背面向的(142),其中每个(142)的正表面粘结到再分配层(130,160),并且所述第三(185)模制(182)包括第三(172)。可使用多个第一模制(110)。所述第一(110)可为易失性存储器,所述第二(142)可为非易失性存储器,并且所述第三(172)可为活动
  • 竖直堆叠系统封装及其制造方法
  • [发明专利]晶片堆叠结构以及相关联系统和方法-CN202011484194.9在审
  • 张吉远 - 美光科技公司
  • 2020-12-16 - 2021-06-22 - H01L25/065
  • 本申请涉及晶片堆叠结构以及相关联系统和方法。一种用于半导体装置的堆叠结构大体上包含具有形成于晶片中的第一的初级以及具有耦合到所述第一的第二的第二。第三包含耦合到所述第二的第三。所述分别具有从所述的作用侧延伸的导电第一、第二和第三互连件,且可在堆叠所述之前接合。所述可相对于彼此堆叠在偏移或旋转位置中,使得所述互连件延伸超过其它片中的每一者以接触重布层,所述重布层形成与外部部件的电连接。在一些配置中,具有第四和导电第四互连件的第四耦合到所述第三且定位成从所述第三横向偏移,使得所述第三互连件延伸超过所述第四
  • 晶片堆叠结构以及相关联系方法
  • [发明专利]一种系统封装多芯片互联测试方法及装置-CN201511020240.9在审
  • 刘军强 - 深圳市中兴微电子技术有限公司
  • 2015-12-30 - 2017-07-07 - G01R31/28
  • 本发明实施例公开了一种系统封装多芯片互联测试方法,用于系统封装芯片,所述系统封装芯片至少包括第一和与所述第一互联的第二,所述第一与所述第二均包括联合测试工作组JTAG接口,且所述第一与所述第二形成串联的JTAG结构;包括将所述第一的端口设置为输出,所述第二的端口设置为输入;将第一测量向量通过所述第二的端口输入,采集所述第一的端口输出的第一输出向量;根据所述第一输出向量与预设的第一对比向量,确定所述系统封装芯片是否出现故障。进一步的,本发明实施例还公开了一种系统封装多芯片互联测试装置。
  • 一种系统封装芯片联测方法装置
  • [发明专利]基于的高优先及低优先错误队列-CN202111085318.0在审
  • 吉扬·普拉卡什;维杰·桑卡尔 - 铠侠股份有限公司
  • 2021-09-16 - 2022-04-01 - G06F9/30
  • 耦合到包括具有n个通道的n x m阵列的NAND存储器装置的处理器通过以下步骤而对执行错误恢复消息调度及读取错误恢复:响应于对目的地进行读取命令的经尝试执行而接收读取错误的指示;及响应于所述指示而创建错误恢复消息或指令所述处理器确定所述错误恢复消息的所述目的地,且基于所述经确定目的地而将所述错误恢复消息发送到队列。可将n x m个队列各自进一步划分成p个优先队列,且基于与错误恢复消息相关联的优先而将所述错误恢复消息发送到适当优先队列。所述处理器从每一优先队列的头部提取错误恢复消息且在所述目的地处执行读取错误恢复。
  • 基于优先级错误队列
  • [发明专利]用于对邻近半导体进行晶片测试的方法和设备-CN202011562152.2在审
  • R·H·卡利亚;B·H·拉姆 - 美光科技公司
  • 2020-12-25 - 2021-07-16 - G11C29/12
  • 本申请涉及用于对邻近半导体进行晶片测试的方法和设备。使用存储器的内建自测试电路系统mBIST和划线并行地对半导体晶片的多个邻近半导体进行晶片测试,所述划线将半导体的某些端子连接到邻近半导体的端子。在所述晶片测试期间,测试设置的探针连接到所述多个邻近半导体片中的单个半导体,且mBIST命令从所述多个邻近半导体片中的所述单个半导体传递到一或多个邻近半导体。在一些实例中,所述划线将一个半导体的mBIST电路端子连接到邻近半导体的mBIST电路端子。在一些实例中,所述划线将一个半导体的I/O端子连接到邻近半导体的I/O端子。
  • 用于邻近半导体进行晶片测试方法设备
  • [发明专利]制造系统封装的方法-CN200680026361.7无效
  • 菲利普·L·L·科韦;赫尔韦·弗勒里;法布里斯·韦尔瑞 - NXP股份有限公司
  • 2006-07-18 - 2008-07-16 - G01R31/28
  • 本发明涉及一种制造系统封装的方法,其中系统封装(10)具有用于在每个(30)被安装在系统封装(10)的衬底上以后对其进行测试的测试控制器(20),优选地是无线测试控制器,并且有缺陷的(30)在下一个(30)被安装在衬底(15)之前被修复。这样,系统封装(10)可以在其制造的中间阶段期间被测试,因此在所有(30)被封入单个封装之前确保了所有(30)都能正确地运行。于是,获得了一种相比较于已知的制造方法而言产率提高了的用于制造系统封装(10)的方法。
  • 制造系统封装方法

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